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介電常數(shù)是衡量物質(zhì)電性的重要參數(shù)之一,對(duì)于液體而言,其介電常數(shù)的測(cè)定則有助于深入了解其電性質(zhì)和化學(xué)特性。本文將著重介紹一種新穎的液體介電常數(shù)測(cè)定儀,并探討其原理、應(yīng)用及優(yōu)缺點(diǎn)。一、儀器原理液體介電常數(shù)測(cè)定儀主要基于時(shí)域反射法原理,通過(guò)在被測(cè)液體中引入電場(chǎng)脈沖并測(cè)量反射波形的時(shí)間和幅度,計(jì)算出液體介電常數(shù)。具體步驟如下:1.儀器將一定頻率的高壓電場(chǎng)脈沖信號(hào)引入被測(cè)液體,在液體中產(chǎn)生電磁波。2.液體中的電荷會(huì)分布在液體中,并隨著時(shí)間的推移變化。3.當(dāng)電場(chǎng)脈沖信號(hào)傳播到液體表面時(shí),...
粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據(jù)測(cè)試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器、電阻式顆粒計(jì)數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。粒度儀的注意事項(xiàng)(1)分離顆粒的能力與粒度測(cè)試技術(shù)選擇依據(jù)對(duì)顆粒的分離能力。將測(cè)量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計(jì)數(shù)、顆粒分級(jí)和整體平均結(jié)果三類(lèi)。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法;分級(jí)方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等;整體平均的粒度分析方法,從收集到的所有測(cè)量顆粒產(chǎn)生信號(hào)的總和計(jì)算粒度分析,即測(cè)量結(jié)果由解析得到,...
物理吸附儀用于煤層氣、頁(yè)巖氣在不同壓力條件下等溫吸附量、解吸量測(cè)試。高溫高壓吸附測(cè)試儀,包括氣體增壓裝置、吸附裝置、溫度控制裝置、升降裝置和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng);氣動(dòng)開(kāi)關(guān)閥連接在氦氣瓶,氣動(dòng)開(kāi)關(guān)閥出口端連接安全閥、梭閥和增壓泵,增壓泵的出口并聯(lián)有2~8個(gè)氣動(dòng)切換閥;每個(gè)氣動(dòng)切換閥連接一個(gè)參考罐和一個(gè)樣品吸附罐:在參考罐和樣品吸附罐的另一端分別連接有壓力變送器。在恒溫油槽的底部固定有制冷系統(tǒng)的蒸發(fā)器;在恒溫油槽內(nèi)固定有帶孔隔板、電加熱元件和溫度控制儀。效果結(jié)構(gòu)合理、緊湊,便于移動(dòng),使用...
Zeta電位儀可用于測(cè)定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位方法有幾種?1)電泳光散射法市面上常見(jiàn)的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法,也就是電泳光散射法,由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合,隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大,這種方法也被廣大客戶(hù)接受,執(zhí)行ISO-13099-2標(biāo)準(zhǔn)。此方法的弊端有:*樣品必須要進(jìn)行稀釋后測(cè)試;*不同濃度對(duì)測(cè)試結(jié)果影響比較大;*測(cè)試結(jié)...
納米粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的一種儀器,采用數(shù)字相關(guān)器的納米激光粒度儀,其采用高速數(shù)字相關(guān)器和高性能光電倍增管作為核心器件,具有操作簡(jiǎn)便、測(cè)試快捷、高分辨、高重復(fù)及測(cè)試準(zhǔn)確等特點(diǎn),是納米顆粒粒度測(cè)試的產(chǎn)品。納米粒度儀具有的性能特點(diǎn)◆先進(jìn)的測(cè)試原理:本儀器采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快,大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,激光照射這些顆粒,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜...
納米粒度儀一般有動(dòng)態(tài)光散射法和超聲衰減法,后者主要用于高濃、高粘和有色樣品的測(cè)定,粒度范圍可以覆蓋納米區(qū)域和微米區(qū)域。本文主要介紹動(dòng)態(tài)光散射法(DynamiclightScattering,即DLS),也叫光子相關(guān)光譜法。這是目前市面上常見(jiàn)的應(yīng)用廣泛的納米粒度表征手段,具有速度快,樣品用量少,重復(fù)性好等特點(diǎn),并且可以附加光散射電泳法測(cè)定Zeta電位的功能。但并不適用于分子量的測(cè)定。動(dòng)態(tài)光散射納米粒度儀原理是基于布朗運(yùn)動(dòng),粒子的布朗運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng);布朗運(yùn)動(dòng)的速度依賴(lài)于粒子的...
國(guó)產(chǎn)納米粒度儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測(cè)顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強(qiáng)的變化反演出顆粒群的粒度分布數(shù)據(jù)。顆粒測(cè)試的數(shù)據(jù)計(jì)算一般分為約束擬合反演和有約束擬合反演兩種方法。有約束擬合反演在計(jì)算前假設(shè)顆粒群符合某種分布規(guī)律,再根據(jù)該規(guī)律反演出粒度分布。這種運(yùn)算相對(duì)比較簡(jiǎn)單,但由于事先的假設(shè)與實(shí)際情況之間不可避免會(huì)存在偏差,從而有約束擬合計(jì)算出的測(cè)試數(shù)據(jù)不能真實(shí)反映顆粒群的實(shí)際粒度分布。約束擬合反演即測(cè)試前對(duì)顆粒群不做任何假設(shè),通過(guò)...
Zeta電位儀是一個(gè)負(fù)反饋放大--輸出系統(tǒng),與被保護(hù)物(如埋地管道)構(gòu)成閉環(huán)調(diào)節(jié),通過(guò)參比電極測(cè)量通電點(diǎn)電位,作為取樣信號(hào)與控制信號(hào)進(jìn)行比較,實(shí)現(xiàn)控制并調(diào)節(jié)極化電流輸出,使通電點(diǎn)電位得以保持在設(shè)定的控制電位上。Zeta電位儀的陰極保護(hù)技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于埋地金屬管道和處于腐蝕介質(zhì)中的設(shè)施,以防止或延緩金屬管道及設(shè)施的腐蝕,延長(zhǎng)其使用壽命。陰極保護(hù)就是對(duì)被保護(hù)的金屬管道及其它需保護(hù)的設(shè)施實(shí)施外加直流電,進(jìn)行陰極極化。作為陰極保護(hù)系統(tǒng)的主要儀器,用以提供直流電源,設(shè)定通電點(diǎn)電位。Z...
粒度檢測(cè)儀是一款集成打印和自充電功能的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)用油液污染分析儀器,它不但可以用來(lái)實(shí)時(shí)監(jiān)控液壓和潤(rùn)滑系統(tǒng)的油液清潔度變化狀況,使裝備維護(hù)者能夠在早期進(jìn)行干預(yù),以防止污染物對(duì)液壓系統(tǒng)部件的磨損或破壞,還可以作為售后或質(zhì)檢人員的臨時(shí)檢測(cè)工具,用來(lái)判斷在用油的品質(zhì),以免因油品不良造成機(jī)器設(shè)備出現(xiàn)故障。粒度檢測(cè)儀可以針對(duì)液壓系統(tǒng)中的油液顆粒度、清潔度和污染物進(jìn)行監(jiān)測(cè)和分析,提高系統(tǒng)中的清潔效率。液壓設(shè)備如果受到顆粒物的侵蝕,一定要使用這些專(zhuān)業(yè)的過(guò)濾器來(lái)幫助系統(tǒng)更好的進(jìn)行清潔。該部件使用...
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